特許

J-GLOBAL ID：200903023522151721

光ファイバ特性測定装置

発明者： 小山田 弥平
出願人/特許権者： 横河電機株式会社 ,  小山田 弥平
代理人 (7件)： 志賀 正武 ,  高橋 詔男 ,  渡邊 隆 ,  青山 正和 ,  鈴木 三義 ,  西 和哉 ,  村山 靖彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-349391
公開番号（公開出願番号）：特開2008-157859
出願日： 2006年12月26日
公開日（公表日）： 2008年07月10日
要約：

【課題】被測定光ファイバの一端からパルス光を入射し、被測定光ファイバの他端から連続光を入射する光ファイバ特性測定装置において、さらなる高空間分解能化を達成する。【解決手段】第1の周波数を有するコヒーレント光から、第1パルス光のパルス幅中心と第2パルス光のパルス幅中心との時間間隔が被測定光ファイバ中の音響波の寿命以下の時間間隔とされたパルス列2aを生成し、該パルス列2aをパルス光L1として被測定光ファイバ6の一端61から入射する第1光源装置1,2,9と、パルス光L1の周波数と連続光L2の周波数との差を上記被測定光ファイバ6のブリルアン周波数シフト量を含んで可変とする可変手段9とを備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

第1の周波数を有するコヒーレント光から、第1パルス光のパルス幅中心と第2パルス光のパルス幅中心との時間間隔が被測定光ファイバ中の音響波の寿命以下の時間間隔とされたパルス列を生成し、該パルス列をパルス光として被測定光ファイバの一端から入射する第1光源装置と、 第2の周波数を有するコヒーレント光を連続光として被測定光ファイバの他端から入射する第2光源装置と、 前記第1の周波数と前記第2の周波数との差を前記被測定光ファイバのブリルアン周波数シフト量を含んで可変とする可変手段と、 前記被測定光ファイバの一端から射出される光を検出する光検出手段と、 該光検出手段の検出結果に基づいて前記被測定光ファイバの特性を測定する信号処理手段と を備えることを特徴とする光ファイバ特性測定装置。

IPC (1件)：

G01M 11/02

FI (1件)：

G01M11/02 J

Fターム (1件)：

2G086KK07

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 特許第2575794号公報
  
• 特許第3481494号公報
  
• 特許第2589345号公報