特許
J-GLOBAL ID：200903023534803937
超音波測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高矢 諭 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-287140
公開番号（公開出願番号）：特開平5-099907
出願日： 1991年10月07日
公開日（公表日）： 1993年04月23日
要約：
【要約】【目的】 物質の探傷、材質計測及び寸法測定を行うための超音波測定方法に関し、アナログフィルタによるフィルタリングを可能として、短時間処理、コストの低減及びシステムの簡略化を図る。【構成】 被検体100で反射された超音波を受信し、該受信超音波信号d を、所定のサンプリング周期 t<SB>1 </SB>でA/D変換し、該ディジタル超音波信号e を、上記サンプリング周期 t<SB>1 </SB>よりも長い変換周期 t<SB>2 </SB>( t<SB>1 </SB>< t<SB>2 </SB>)でD/A変換した後、アナログフィルタ8でフィルタリングする。
請求項（抜粋）：
被検体で反射された超音波を受信し、該受信超音波信号を、所定のサンプリング周期でA/D変換し、該ディジタル超音波信号を、上記サンプリング周期よりも長い変換周期でD/A変換し、該アナログ超音波信号を、アナログフィルタでフィルタリングすることを特徴とする超音波測定方法。
IPC (3件)：
G01N 29/22 501
, G01B 17/00
, G01N 29/10 501
