特許
J-GLOBAL ID:200903023544878048

希薄イオン溶液の濃度測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 渡辺 一雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-202763
公開番号(公開出願番号):特開平5-045351
出願日: 1991年08月13日
公開日(公表日): 1993年02月23日
要約:
【要約】【目的】 水中イオン濃度が低い原液を極めて効率よく吸着回収濃縮し、原液の濃度を測定する方法を提供する。【構成】 希薄イオン溶液を、カチオン、アニオンまたは、キレート交換機能性を有する多孔性膜のいずれか一つ又は複数で濾過処理し、多孔性膜に吸着されたイオンを再生液で脱着濃縮し、そのイオン濃度を検出することにより、元の希薄イオンのイオン濃度を測定する事を特徴とする希薄イオン溶液濃度測定方法。【効果】 希薄溶液を1千倍以上濃縮し、且つ、1%以下の誤差で原液の濃度を特定できる。
請求項(抜粋):
希薄イオン溶液を、カチオン、アニオン又は、キレート交換機能性を有する多孔性膜のいずれか一つ又は複数で濾過処理し、多孔性膜に吸着されたイオンを再生液で脱着濃縮し、そのイオン濃度を検出することにより、上記希薄イオン溶液のイオン濃度を測定する事を特徴とする希薄イオン溶液濃度測定方法。
IPC (5件):
G01N 30/96 ,  B01J 47/12 ,  G01N 1/10 ,  G01N 30/08 ,  G01N 21/25
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 特開昭53-065785
  • 特開昭57-059931
  • 特開平3-094883
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