特許

J-GLOBAL ID：200903023575092298

電子部品の選別装置

発明者： 岩佐 貢 ,  有城 政利
出願人/特許権者： 株式会社村田製作所
代理人 (1件)： 下市 努
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-163781
公開番号（公開出願番号）：特開2005-000725
出願日： 2003年06月09日
公開日（公表日）： 2005年01月06日
要約：

【課題】不良品と判定された電子部品を確実に排出することにより品質管理に対する信頼性を向上でき、さらには装置の大型化を防止できるとともに、コストを低減できる電子部品の選別装置を提供する。【解決手段】電子部品2を一列に整列させた状態で搬送する搬送路3aを有する搬送部3と、該搬送路3aの途中にて上記電子部品2を搬送路3aから持ち上げて測定位置Aに保持する保持部4と、該測定位置Aにて上記電子部品2の電気的特性を測定して良否を判定する測定判定部5とを備え、上記保持部4は、良品と判定された電子部品2を測定位置Aから元の搬送路3aに戻し、不良品と判定された電子部品2を測定位置Aからそのまま搬送路3aの外部に排出する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

電子部品の電気的特性を測定して良否を選別するようにした電子部品の選別装置において、上記電子部品を一列に整列させた状態で搬送する搬送路を有する搬送部と、該搬送路の途中又は終端にて上記電子部品を搬送路上から持ち上げて測定位置に保持する保持部と、該測定位置にて上記電子部品の電気的特性を測定して良否を判定する測定判定部とを備え、上記保持部は、良品と判定された電子部品を上記測定位置から元の搬送路に戻し、不良品と判定された電子部品を上記測定位置からそのまま搬送路の外部に排出するように構成されていることを特徴とする電子部品の選別装置。

IPC (3件)：

B07C5/344 ,  B65G47/14 ,  G01R31/00

FI (3件)：

B07C5/344 ,  B65G47/14 101C ,  G01R31/00

Fターム (27件)：

2G036AA27 ,  2G036BB01 ,  2G036BB02 ,  2G036BB09 ,  2G036BB12 ,  2G036BB22 ,  2G036CA02 ,  2G036CA03 ,  2G036CA05 ,  3F079AD06 ,  3F079CA37 ,  3F079CA41 ,  3F079CC03 ,  3F079DA04 ,  3F079EA09 ,  3F080AA13 ,  3F080BA01 ,  3F080BB03 ,  3F080BD01 ,  3F080BF17 ,  3F080BF19 ,  3F080CB03 ,  3F080CE14 ,  3F080DA18 ,  3F080DB09 ,  3F080EA09 ,  3F080EA17