特許
J-GLOBAL ID：200903023582354567
距離測定方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
稲本 義雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-240917
公開番号（公開出願番号）：特開平8-105721
出願日： 1994年10月05日
公開日（公表日）： 1996年04月23日
要約：
【要約】【目的】 測定対象物体への照射角度の測定誤差を抑制し、測定対象物体の3次元座標位置を正確に測定する。【構成】 光源1より出射された光は、光学系2によりスリット光L1にされ、駆動部8により回転するスキャニングミラー3に照射される。そこを反射したスリット光L1は、測定対象物体4の表面に走査されながら照射されるとともに、一部がラインセンサ11に照射される。測定対象物体4の表面で反射された反射スリット光L2は、光学系7を介して非走査型撮像素子6に入射する。この反射スリット光L2の非走査型撮像素子6への入射角度と、ラインセンサ11へのスリット光L1の入射位置より算出されるスリット光L1の測定対象物体4への照射角度より、測定対象物体4と非走査型撮像素子6との間の距離Dが、制御部5により求められる。
請求項（抜粋）：
スリット光の光路を所定の方向に偏向し、前記スリット光を測定対象物体の表面に走査しながら照射させ、前記スリット光の一部を受光し、前記スリット光の測定対象物体への照射角度を計測し、前記測定対象物体の表面により反射された反射スリット光を受光し、その受光結果に基づいて、前記測定対象物体までの距離を測定することを特徴とする距離測定方法。
IPC (4件)：
G01B 11/24
, G01B 11/00
, G01B 21/20 101
, G01C 3/06
