特許

J-GLOBAL ID：200903023640518494

マイクロ波伝送ライン反射率計を使用した材料欠陥の検出および一決定方法および装置

発明者： ドナルド・イー・マーテンス ,  ルイス・イー・ゲイツ・ジュニア ,  ロナルド・アイ・ウルフソン ,  ウィリアム・ダブリユ・ミルロイ ,  ジョセフ・ピー・スマランスカス
出願人/特許権者： ヒューズ・エアクラフト・カンパニー
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-225099
公開番号（公開出願番号）：特開平5-196582
出願日： 1992年07月31日
公開日（公表日）： 1993年08月06日
要約：

【要約】【目的】 本発明は、航空機のフレーム等を非破壊的に随時検査することのできる欠陥センサを得ることを目的とする。【構成】 検査される構造体で構成される誘電体基体20と、この誘電体基体20の第1の側面に配置された第1の伝送ライン22とを具備し、この第1の伝送ライン22は欠陥を表わす電界中の擾乱がマイクロ波信号において反射波を生じさせるようにマイクロ波信号の伝播が伝送ラインの周囲に電界を生成するように一端でマイクロ波信号を受けることを特徴とする。伝送ライン22は図示のように蛇行させて構成すれば屈曲位置で反射が生じ、さらに欠陥位置でも反射が生じる。

請求項（抜粋）：

第1の側面および第2の側面を含む第1の誘電体基体と、前記誘電体基体の第1の側面上に配置された第1の伝送ラインとを具備し、この第1の伝送ラインは欠陥を表わす電界中の擾乱がマイクロ波信号において反射波を生じさせるようにマイクロ波信号の伝播が伝送ラインの周囲に電界を生成するように一端でマイクロ波信号を受けることを特徴とする欠陥センサ。

IPC (2件)：

G01N 22/02 ,  B64C 1/06

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭48-045279
  
• 特開昭62-259048