特許

J-GLOBAL ID：200903023644119403

生検試料処理装置

発明者： ダニエル シュトゥーダー
出願人/特許権者： ライカ ミクロジュステーメ ゲーエムベーハー
代理人 (3件)： 加藤 朝道 ,  内田 潔人 ,  石田 康昌
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-034984
公開番号（公開出願番号）：特開2004-028985
出願日： 2003年02月13日
公開日（公表日）： 2004年01月29日
要約：

【課題】試料調製速度を著しく大きくして被検対象の瞬間構造固定試料の質を改善することを可能にし、試料調製の確実性と再現性を改善し、かつ試料調製の際の操作技術的経過を容易にして平均的な訓練を受けかつ平均的な才能を有する技術員でも欠陥のない試料を調製する装置を提供する。【解決手段】生検試料を組織から取り出し、かつ試料ホルダへ移送する生検試料処理装置は、a)案内部材15;b)平板状の試料受容小板5を運搬するための、案内部材上で摺動可能かつ交換可能なスライダ21;c)生検試料3を受容する試料受容空間を有し、スライダ上において交換可能な試料受容小板;及びd)生検試料を前記生検針1の試料受容部から試料受容小板の試料受容空間へ移し替えるための複数の装置を導入するための少なくとも1つの鉛直方向延在孔を有し、案内部材上で摺動可能かつ交換可能な試料移替装置を有する。【選択図】 図10

請求項（抜粋）：

生検試料を、マイクロ生検針によって組織から取り出し、かつ試料ホルダへ移送する生検試料処理装置において、 a)案内部材(15); b)平板状の試料受容小板(5)を運搬するための、前記案内部材(15)上で摺動可能かつ交換可能なスライダ(21); c)生検試料(3)を受容する試料受容空間(4)を有し、前記スライダ(21)上において交換可能な試料受容小板(5);及び d)生検試料(3)を前記生検針(1)の試料受容部(2)から前記試料受容小板(5)の試料受容空間(4)へ移し替えるための装置を導入するための少なくとも1つの鉛直方向延在孔を有し、前記案内部材(15)上で摺動可能かつ交換可能な試料移替装置 を有すること を特徴とする生検試料処理装置。

IPC (2件)：

G01N33/48 ,  G01N1/04

FI (2件)：

G01N33/48 P ,  G01N1/04 H

Fターム (14件)：

2G045AA40 ,  2G045BA14 ,  2G045CB01 ,  2G045FA16 ,  2G045HA06 ,  2G052AA28 ,  2G052AC00 ,  2G052AD14 ,  2G052BA02 ,  2G052BA15 ,  2G052DA22 ,  2G052DA33 ,  2G052EC01 ,  2G052JA08

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 含水試料の試料ホルダおよびその使用法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-018074   出願人：ライカアーゲー
• 試料凍結装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-053148   出願人：日本電子株式会社, 日本電子エンジニアリング株式会社