特許
J-GLOBAL ID：200903023648714276
パターン検出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-154730
公開番号（公開出願番号）：特開平5-196435
出願日： 1983年12月26日
公開日（公表日）： 1993年08月06日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】S/Nの良い螢光パターンを検出できるようにし、基板上に形成された配線パターンであって、特にスルーホールを有する配線パターンを、精度良く認識するパターン検出方法を提供する。【構成】表面に配線パターン4が形成されたスルーホール13を有するプリント基板1の裏側に基材3とほぼ同じ波長の蛍光を発生する螢光体12を置き、プリント基板1の表面に光を照射することにより、プリント基板1の基材3から発生する蛍光に、プリント基板1を透過した光により蛍光体12から発生してプリント基板1を透過した蛍光を加え合せ、加え合せた蛍光と、スルーホール13を通過した光により螢光体12から発生してスルーホール13を通過した蛍光とを検出器11で検出することにより、プリント基板1の表面に形成された配線パターン4およびスルーホール13を検出する。
請求項（抜粋）：
表面に配線パターンが形成されたスルーホールを有するプリント基板の裏側に基材とほぼ同じ波長の蛍光を発生する螢光体を置き、上記プリント基板の表面に光を照射することにより、上記プリント基板の基材から発生する蛍光に、上記プリント基板を透過した上記光により上記蛍光体から発生して上記プリント基板を透過した蛍光を加え合せ、該加え合せた蛍光と、上記スルーホールを通過した上記光により上記螢光体から発生して上記スルーホールを通過した蛍光とを検出器で検出することにより、上記プリント基板表面に形成された上記配線パターンおよび上記スルーホールを検出することを特徴とするパターン検出方法。
IPC (2件)：
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