特許
J-GLOBAL ID：200903023678455542
隙間の距離計測方法
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-173217
公開番号（公開出願番号）：特開平7-024575
出願日： 1993年07月13日
公開日（公表日）： 1995年01月27日
要約：
【要約】【目的】 溶接箇所の隙間寸法を高い精度で計測する。【構成】 凸片11と筒状体10とが溶接された被測定体の溶接箇所の隙間寸法を2個の光学センサー1,2により計測する。2個の光学センサー1,2はビームを被測定体の凸片11のA面および筒状体10のB面へ照射して被測定体の表面部との距離を計測する。距離方向を縦軸Z、被計測体に対し左右方向を横軸Xとして計測距離の変化を調べる。一方の光学センサー1はA面からB面へかけてA表面から縦軸方向へ所定の距離変化した位置と計測表面の変化グラフと交差した位置X1 を計測し、他方の光学センサー2はB表面から同様の手順でB面の溶接面と反対側の面の端部の位置X3 を計測する。溶接面の幅寸法dと位置X3 とからギャップ寸法gを式,g=|X3-d-X1|,から得る。
請求項（抜粋）：
物体Aと物体Bとが溶接される被計測体の溶接箇所の隙間の寸法を計測する隙間の距離計測方法において、該方法は、光ビームを前記被計測体の表面に照射してその表面との距離を計測し、計測した距離の変化により該被計測体の端部を検出する光学センサーを用い、前記光学センサーにより前記物体Aの前記溶接側の端部であって、前記物体Bの溶接箇所の面に対する垂直線と略平行方向の位置X1を計測する第1の端部計測工程と、前記光学センサーにより前記物体Bの前記溶接箇所と異なる箇所の端部の前記略平行方向の位置X2を計測する第2の端部計測工程とを有し、前記物体Bの前記溶接箇所と前記位置X2との前記略平行方向の機械的距離dを知り、前記位置X1と前記位置X2 と前記機械的距離dとにより前記隙間の距離を演算により求めることを特徴とする隙間の距離計測方法。
IPC (3件)：
B23K 9/127 508
, B23K 9/095
, G01B 11/14
