特許
J-GLOBAL ID：200903023682931294
近接場光学素子、近接場光学素子の姿勢測定システム、近接場光学素子の姿勢補正方法、近接場光記録装置、および近接場光記録装置の制御方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 茂明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-175310
公開番号（公開出願番号）：特開2001-006189
出願日： 1999年06月22日
公開日（公表日）： 2001年01月12日
要約：
【要約】【課題】 対象物に対する姿勢を測定することが可能な近接場光学素子、およびそれを用いた技術を提供する。【解決手段】 近接場光を利用した記録装置1は、記録媒体10とプローブ20と測定部50と制御部60と駆動部70とを備える。プローブ20は、記録媒体10に対向する端面Fに複数のアルミニウム薄膜25を有する。各アルミニウム薄膜25は、記録媒体10とプローブ20との間の静電容量を検出する静電容量検出面として機能し、計測部30によって当該静電容量が計測される。複数のアルミニウム薄膜25に対応する各静電容量は記録媒体10と各アルミニウム薄膜25との間の各距離を反映した量であるので、これらの各静電容量を比較することによりプローブ20の記録媒体10に対する姿勢を測定することができる。
請求項（抜粋）：
対象物に対して近接した状態で前記対象物との間の光相互作用を近接場光を用いて行う近接場光学素子であって、近接場光の発生または検出を行う微小な光学窓を有する光学素子本体と、前記光学窓に対して相対的に固定された位置に規定されて、前記対象物に対向する対向面と、前記対向面上に設けられた複数の導電体部と、を備えることを特徴とする近接場光学素子。
IPC (5件)：
G11B 7/09
, G01N 13/10
, G01N 13/14
, G11B 7/12
, G11B 7/135
G11B 7/09 B
, G11B 7/09 G
, G01N 13/10 G
, G01N 13/14 B
, G11B 7/12
, G11B 7/135 A
5D118AA13
, 5D118CD04
, 5D118CF27
, 5D118DC02
, 5D118DC10
, 5D119AA28
, 5D119JA35
, 5D119JA43
