特許
J-GLOBAL ID：200903023689773449
超音波探傷評価方法および装置
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
波多野 久 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-194747
公開番号（公開出願番号）：特開平7-049338
出願日： 1993年08月05日
公開日（公表日）： 1995年02月21日
要約：
【要約】【目的】欠陥エコーと形状エコーとの判別が明確に行え、これにより熟練を必要としないで反射源が欠陥であるか非欠陥であるかの判定を容易かつ確実に行えるとともに、欠陥の超音波探触子からの正確な深さ位置を高精度で検知することができ、かつ探傷範囲を被検査用材料の板厚全体に亘って拡大できる超音波探傷評価方法および装置を提供することを目的とする。【構成】被検査用材料11の表面に沿って超音波探触子12を走査させ、反射源aからのエコー検出、超音波探触子の位置検出および超音波探触子から反射源までのビーム路程検出を一定パルス幅で同期的に進めてゆき、各エコー検出位置毎に前回エコー検出位置からの超音波探触子の位置変化量、ビーム路程の変化量およびエコー高さの変化量をそれぞれ求め、その求めたデータ中のエコー高さのピーク点が被検査用材料中の一定領域内にある場合にはその反射源が欠陥と評価し、そのピーク点が前記領域外にある場合には非欠陥と評価する。
請求項（抜粋）：
被検査用材料の表面に沿って超音波探触子を走査させ、反射源からのエコー検出、超音波探触子の位置検出および超音波探触子から反射源までのビーム路程検出を一定パルス幅で同期的に進めてゆき、各エコー検出位置毎に前回エコー検出位置からの超音波探触子の位置変化量、ビーム路程の変化量およびエコー高さの変化量をそれぞれ求め、その求めたデータ中のエコー高さのピーク点が被検査用材料中の一定領域内にある場合にはその反射源が欠陥と評価し、そのピーク点が前記領域外にある場合には非欠陥と評価することを特徴とする超音波探傷評価方法。
引用特許：
前のページに戻る
