特許
J-GLOBAL ID：200903023717282430
プリント基板外観検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石原 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-009277
公開番号（公開出願番号）：特開平7-218343
出願日： 1994年01月31日
公開日（公表日）： 1995年08月18日
要約：
【要約】【目的】 簡単でコスト安なハード構成で、高精度、且つ、高速に、銀ペーストスルーホールを検査するプリント基板外観検査装置の提供。【構成】 カラー画像撮像手段3と、前記のカラー画像を色座標変換し所定の色成分を抽出して2値化する色抽出手段4とを有し、プリント基板1の銀ペーストスルーホール15を自動検査するプリント基板外観検査装置において、前記色抽出手段4からの2値画像に細線化処理とこれに伴う距離変換処理を施す細線化手段5と、前記距離変換処理で得られた距離変換画像から前記2値画像の線幅を計測し、前記計測した線幅を基準線幅と大小比較して線幅の違反を銀ペーストスルーホールの銀ペースト塗布不良として検出する線幅違反検出手段6と、装置全体の制御を行う判定制御手段14とを有する。
請求項（抜粋）：
カラー画像を撮像するカラー画像撮像手段と、前記のカラー画像を色座標変換し所定の色成分を抽出して2値化する色抽出手段とを有し、プリント基板の銀ペーストスルーホールを自動検査するプリント基板外観検査装置において、前記色抽出手段からの2値画像に細線化処理とこれに伴う距離変換処理を施す細線化手段と、前記2値画像の前記距離変換処理で得られた距離変換画像から前記2値画像の線幅を計測し、前記計測した線幅を基準線幅と大小比較して線幅の違反を銀ペーストスルーホールの銀ペースト塗布不良として検出する線幅違反検出手段とを有することを特徴とするプリント基板外観検査装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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