特許
J-GLOBAL ID：200903023728135609
液晶パネルの欠陥候補箇所検出方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
原 謙三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-319314
公開番号（公開出願番号）：特開平9-159997
出願日： 1995年12月07日
公開日（公表日）： 1997年06月20日
要約：
【要約】【課題】 ソースラインとゲートラインとの間の絶縁層に充分なストレスを与えることで、欠陥候補箇所の検出精度の向上を図り、市場におけるS-Gリークの発生件数を大きく低下させる。【解決手段】 液晶パネルの欠陥検査における、パネル検査工程(P1)において、液晶パネルを通電した状態で高温槽に投入し、その間に通常検査電圧よりも過大な過大検査電圧を、ゲートラインに所定時間、所定回数印加する処理を行い、ソースラインとゲートラインとの間の破壊寸前の絶縁層を破壊し、パネル検査工程における点灯検査にて、十字輝線欠陥として検出する。
請求項（抜粋）：
アクティブマトリクス基板を備えた液晶パネルを通電状態で一定時間高温条件下に保持すると共に、その間に一時的に通常の検査電圧よりも過大な検査電圧をアクティブマトリクス基板上の信号線に印加して該信号線に接している絶縁層にストレスを与え、使用に耐えない絶縁層を破壊してアクティブマトリクス基板上の欠陥候補箇所を検出することを特徴とする液晶パネルの欠陥候補箇所検出方法。
IPC (4件)：
G02F 1/133 550
, G01R 31/00
, G02F 1/136 500
, H01L 29/786
G02F 1/133 550
, G01R 31/00
, G02F 1/136 500
, H01L 29/78 612 A
