特許
J-GLOBAL ID:200903023768395972

ソリッドモデリングに有用なスライス計測法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 中村 稔 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-273338
公開番号(公開出願番号):特開平8-136255
出願日: 1994年11月08日
公開日(公表日): 1996年05月31日
要約:
【要約】【構成】 スライス計測法は、立体物の形状を表す3次元データを得るために、立体物をフリーアングル撮影することにより所望組のステレオ写真または画像を用意し、所望数の立体形状特徴点を含むスライスポイントを決定し、各組みのステレオ写真または画像から各スライスポイントにそってとった立体物の形状を示すスライスデータを測定し、測定した全スライスデータを編集して各スライスポイントについて1本のスライスラインデータを求める。また、スライスポイントの決定後において、各スライスポイントに対応したスライスライン間にサーフェス面を設定する場合の目安とするための立体形状特徴線の測定も行なう。【効果】 今まで3次元計測且つ3次元表現することが非常に困難であった立体形状物に対し、写真または画像を用いた計測手法により非接触で高精度な3次元データを取得し、且つ3次元計測データを用いた完全なソリッドモデリング解析やリアルな自動立体成型を可能とすることができる。
請求項(抜粋):
立体物の形状を表す3次元データを得るために、該立体物をフリーアングル撮影することにより所望組のステレオ写真または画像を用意し、所望数の立体形状特徴点を含むスライスポイントを決定し、各組みのステレオ写真または画像から各スライスポイントにそってとった前記立体物の形状を示すスライスデータを測定し、測定した全スライスデータを編集して各スライスポイントについて1本のスライスラインデータを求めることを特徴とするスライス計測法。
IPC (5件):
G01C 11/00 ,  G01B 11/24 ,  G06F 17/50 ,  G06T 7/00 ,  G06T 1/00
FI (4件):
G06F 15/60 624 A ,  G06F 15/62 400 ,  G06F 15/62 415 ,  G06F 15/64 M

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