特許

J-GLOBAL ID：200903023802092399

引圧発生装置およびそれを用いた検体分析装置

発明者： 仲 道男 ,  平山 浩二 ,  樋口 善彦 ,  小池 益史 ,  奥田 久
出願人/特許権者： 株式会社京都第一科学
代理人 (1件)： 池内 寛幸 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-231506
公開番号（公開出願番号）：特開平11-056821
出願日： 1997年08月27日
公開日（公表日）： 1999年03月02日
要約：

【要約】【課題】 検体分析用具のための引圧発生装置を提供する。【解決手段】 この装置は、蓋板61、中板62、底板63および操作板64の4つの部品から構成されている。前記操作板64の下側のほぼ中央部には、引圧発生室を圧縮するための突起部642が形成されており、またその上側のほぼ中央部には操作のための突起部641が形成されている。前記底板63は、そのほぼ中央部に検体分析用具を差し込むための通路631が形成されており、この通路の所定部分に光照射のための孔632が穿孔されている。前記中板62には、前記操作板64を篏入させるための凹部623が形成され、この凹部623の中央部分に、前記操作板64の下側突起部642を突出させるための窓部621が形成されている。前記蓋板61には、前記操作板64の上側突起部641を突出させるための窓部611が形成されている。

請求項（抜粋）：

弾性を有する引圧発生室と、これと連通する吸引流路とこの吸引流路の途中に形成された分析部と、前記吸引流路の先端に形成された吸引口とを備えた検体分析用具の前記引圧発生室に引圧を発生させるための装置であり、前記引圧発生室を圧縮する手段と、この圧縮を解除する手段とを備えた引圧発生装置。

IPC (4件)：

A61B 5/14 300 ,  G01N 1/00 101 ,  G01N 1/10 ,  G01N 33/52

FI (4件)：

A61B 5/14 300 Z ,  G01N 1/00 101 G ,  G01N 1/10 V ,  G01N 33/52 Z

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 反射率計に用いる試験片
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-083394   出願人：株式会社京都第一科学
• 特開平4-151534
  
• 特公昭49-023429