特許
J-GLOBAL ID:200903023839081826

アウトイオンの分析方法、パーティクルまたは溶出物の測定方法、ならびにクリーンフィルムとその積層体

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-254117
公開番号(公開出願番号):特開2003-177120
出願日: 2002年08月30日
公開日(公表日): 2003年06月27日
要約:
【要約】【課題】フィルムのアウトイオン、パーティクル、Sn、Siのクリーン度測定方法、およびアウトイオン、パーティクル、Sn、Siが少ないことを定量的に示したクリーン包材およびそれを用いた積層体を提供することを目的とする。【解決手段】フィルムを超純水で抽出し、その抽出液をイオンクロマトグラフ、液中パーティクルカウンター、結合誘導プラズマ-質量分析計、原子吸光分光光度計により測定する方法である。また、フィルムから溶出する各アウトイオン量がそれぞれ0.20ng/cm2以下であり、内表面に付着している粒径1μm以上のパーティクル数が5個/cm2以下であり、溶出するスズが0.5pg/cm2以下、ケイ素が0.5ng/cm2以下であることを特徴とするクリーンフィルムである。
請求項(抜粋):
フィルムを超純水で抽出し、次いでイオンクロマトグラフにより、抽出液中の各種イオンを測定することを特徴とするフィルムのアウトイオン分析方法。
IPC (10件):
G01N 30/88 ,  B32B 27/08 ,  C08J 5/18 CES ,  G01N 15/00 ,  G01N 21/31 610 ,  G01N 27/62 ,  G01N 30/00 ,  G01N 30/06 ,  G01N 33/44 ,  C08L 23:00
FI (10件):
G01N 30/88 H ,  B32B 27/08 ,  C08J 5/18 CES ,  G01N 15/00 C ,  G01N 21/31 610 A ,  G01N 27/62 V ,  G01N 30/00 G ,  G01N 30/06 Z ,  G01N 33/44 ,  C08L 23:00
Fターム (37件):
2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB10 ,  2G059CC02 ,  2G059DD04 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM12 ,  4F071AA14 ,  4F071AA18 ,  4F071AA88 ,  4F071AF05Y ,  4F071AF53Y ,  4F071AH04 ,  4F071AH05 ,  4F071AH12 ,  4F071AH14 ,  4F071AH16 ,  4F071BB02 ,  4F071BC01 ,  4F071BC04 ,  4F071BC10 ,  4F100AK01A ,  4F100AK03A ,  4F100AK06A ,  4F100AR00B ,  4F100BA02 ,  4F100GB15 ,  4F100GB41 ,  4F100JA06A ,  4F100JD02B ,  4F100JL06 ,  4F100YY00A
引用特許:
審査官引用 (9件)
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