特許
J-GLOBAL ID:200903023850703090

回転速度測定のための方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 深見 久郎 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-000090
公開番号(公開出願番号):特開平5-272982
出願日: 1993年01月04日
公開日(公表日): 1993年10月22日
要約:
【要約】【目的】 ファイバオプティックジャイロによる回路速度測定のための方法および配置または装置を提供する。【構成】 回転速度測定のための、位相リセットを有するファイバオプティックサニャック干渉計の制御ループの倍率およびループ利得を安定させるために、位相変調器(P)の再調整のための制御ループに加えて、一方で倍率制御の利得の公称値のための、かつ他方で一次制御ループのループ利得の安定化のための2つの補助制御ループを有する方法およびデジタル評価回路が提案される。評価回路はASICとして実現化され、かつ制御帯域幅の最適化に関連して、変調および復調信号ならびに倍率制御ループのための制御信号を発生するための回路サブアセンブリにおける高度な複雑さを回避する。
請求項(抜粋):
位相リセットを有するファイバオプティックサニャック干渉計による回転速度測定のための方法であって、1つの光源(Em)から源を発し、かつビーム分割によって発生される2つの偏光した光ビームが反対方向に照射されてファイバコイル(SPL)に入り、かつその後再結合され、このプロセスで生じる干渉パターンが検出され、かつ干渉パターンの光強度に対応する電気信号(ud e t )が発生され、さらに2つの光ビームは複数個の可変成分から構成される制御信号(uφ)によって変調され、そのうちの第1の信号成分はデジタル制御プロセスを経て発生されかつ2つの光ビームの非逆数増分移相を補償するリセット信号であり、かつそのうちの第2の信号成分は第1の乱数発生器(M)によって制御され、かつ各場合に時間T0 で0またはπの値をとり、T0 は2つの光ビームの各々が静止状態でファイバコイル(SPL)を通過する通過時間に対応し、第2の乱数発生器(D)によって制御されかつ各場合に時間T0 で値π/2+dまたはπ/2-dをとる第3の信号成分が制御信号(uφ)に加えられ、dは所定の小さなテスト変数であり、さらに組合された制御信号はモジュロ-2πリセットを伴う積分プロセスを受け、そこでリセット信号ならびに第2および第3の信号成分の双方は結合積分プロセスの前に供給される、方法。
IPC (2件):
G01C 19/72 ,  G01P 9/00

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