特許

J-GLOBAL ID：200903023916652700

複層材料の表層厚さ測定方法

発明者： 小林 敬和 ,  宇田川 建志 ,  林 一雄
出願人/特許権者： 新日本製鐵株式会社
代理人 (1件)： 矢葺 知之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-035062
公開番号（公開出願番号）：特開平7-243838
出願日： 1994年03月04日
公開日（公表日）： 1995年09月19日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 クラッド鋼など表層と内層で組成や組織が異なる複層材料の表層厚さを超音波により効率良く正確、かつ確実に検出する。【構成】 超音波を送信する送信器と、超音波探触子と、探触子の出力信号を増幅するアンプが、低利得のアンプと、その出力に時間ゲートをかけたのち高利得で増幅するアンプを備えた複層材料の表層厚さ測定手段を用る。測定しようとする試料の表層材と同一材質、かつ表層厚さとほぼ同一厚さの表面の滑らかな単相材から、前記測定手段の低利得アンプを用い予め採取した表面の信号を低利得アンプ用参照データ、裏面の信号を高利得アンプ用参照データとしてデジタル化して保存し、被測定試料に対する低利得アンプ、高利得アンプの出力をそれぞれデジタル化して、それぞれに対応した前記参照データとの相関関数計算をそれぞれに行い、最大値を示す時間の差と、予め求めてある音速を掛けて表層厚さを求める。

請求項（抜粋）：

超音波を送信する送信器と、超音波探触子と、探触子の出力信号を増幅するアンプが、低利得のアンプと、その出力に時間ゲートをかけたのち高利得で増幅するアンプを備えた表層厚さ測定手段を用いた複層材料の表層厚さ測定方法において、測定しようとする試料の表層材と同一材質、かつ表層厚さとほぼ同一厚さの表面の滑らかな単相材から、前記低利得アンプを用い予め採取した表面の信号を低利得アンプ用参照データ、裏面の信号を高利得アンプ用参照データとしてデジタル化して保存しておき、被測定試料に対する低利得アンプ、高利得アンプの出力をそれぞれデジタル化して、それぞれに対応した前記参照データとの相関関数計算をそれぞれに行い、それらの最大値を示す時間の差と、予め求めてある音速を掛けて表層厚さを求めることを特徴とする複層材料の表層厚さ測定方法。