特許

J-GLOBAL ID：200903023930644892

クリンカの焼成条件及びセメント強度の推定方法並びにキルン制御方法

発明者： 宇智田 俊一郎 ,  安 藤 巌 ,  小 野 吉 雄 ,  市 野 学 ,  矢 口 博 之 ,  中 間 正 人
出願人/特許権者： 秩父小野田株式会社
代理人 (1件)： 斎藤 侑 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-204932
公開番号（公開出願番号）：特開平9-052741
出願日： 1995年08月10日
公開日（公表日）： 1997年02月25日
要約：

【要約】【課題】特別な経験知識等を有しない者でも正確に、かつ、短時間にクリンカの焼成条件及びセメント強度が求められる様にする。【解決手段】偏光顕微鏡1に映し出されるクリンカ又はセメントのサンプルの結晶画像をCCDカメラ2、カラー画像取込み装置3を介してコンピュータ5に取り込み、この取込んだ複数の結晶画像を加工して輪郭線抽出を行い、該輪郭線の結晶画像をエーライト結晶AKとビーライト結晶BKとに分類し、前記エーライト結晶の長径及び複屈折率並びにビーライト結晶の直径及び明度又は複屈折率を求める。前記4つのパラメータをセメント強度推定式に代入してセメント強度を求める。また、これらを用いてキルンの制御を行なう。

請求項（抜粋）：

偏光顕微鏡に映し出されるクリンカ又はセメントのサンプルの結晶画像をコンピュータに取り込む画像取込み行程と;前記行程で取込んだ複数の結晶画像を加工して輪郭線抽出を行い解析可能にする画像処理行程と;前記行程で抽出された輪郭線の結晶画像からエーライトビーライト判別方法に基づきエーライト結晶とビーライト結晶とを抽出する結晶画像の分類行程と;エーライト結晶のパラメータ測定方法に基づき前記エーライト結晶の長径及び複屈折率を求め、かつ、ビーライト結晶のパラメータ測定方法に基づきビーライト結晶の直径及び明度又は複屈折率を求める4パラメータ測定行程と;を備えたことを特徴とするクリンカの焼成条件及びコンクリート強度の推定方法。

IPC (7件)：

C04B 7/44 ,  C04B 7/48 ,  F27B 7/42 ,  F27B 21/00 ,  F27D 21/02 ,  G01N 21/21 ,  G01N 21/23

FI (7件)：

C04B 7/44 ,  C04B 7/48 ,  F27B 7/42 ,  F27B 21/00 A ,  F27D 21/02 ,  G01N 21/21 Z ,  G01N 21/23