特許
J-GLOBAL ID：200903023962036754
基板不良検出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡田 守弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-340144
公開番号（公開出願番号）：特開平8-186400
出願日： 1994年12月29日
公開日（公表日）： 1996年07月16日
要約：
【要約】【目的】 本発明は、基板不良検出方法に関し、基板から多数取りする部分上の内部、境界、あるいは外周の不良認識マーキングの枠をプリ印刷しておき、不良認識マーキングを自動あるいは人が付し、実装時に部分の内部、境界、あるいは外周の枠内に不良認識マーキングが施されていないもののみを良品として取り出し、1枚の基板から多数取りする部分の不良認識マーキングを人あるいは機械のいずれも容易に付したり、確実に検出したりすることを可能にすることを目的とする。【構成】 基板上の部品を実装する多数の部分の外周に不良認識マーキングの枠をプリ印刷しておき、当該部分が不良と判明したときに不良認識マーキングの枠内にマーク付けをし、実装時に不良認識マーキングの枠内にマーク付けされていたときに不良品と判定し実装しなく、マーク付けされていないときに良品と判定して切り出しなどを行って実装するように構成する。
請求項（抜粋）：
基板上に部品を実装した多数の部分の不良を検出する基板不良検出方法において、基板上の部品を実装する多数の部分の外周に不良認識マーキングの枠をプリ印刷しておき、当該部分が不良と判明したときに上記不良認識マーキングの枠内にマーク付けをし、実装時に上記不良認識マーキングの枠内にマーク付けされていたときに不良品と判定し実装しなく、マーク付けされていないときに良品と判定して切り出しなどを行って実装することを特徴とする基板不良検出方法。
IPC (2件)：
引用特許：
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