特許
J-GLOBAL ID：200903024006167650
眼軸長測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西脇 民雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-081980
公開番号（公開出願番号）：特開平5-277074
出願日： 1992年04月03日
公開日（公表日）： 1993年10月26日
要約：
【要約】【目的】 眼球の複屈折等の影響を受けることのない眼軸長測定装置を提供することにある。【構成】半導体レーザー111からの光束を直線偏光の測定光にして、前記測定光を被検眼眼底Er及び基準となる参照面133にそれぞれ照射すると共に、前記被検眼眼底から反射する眼底反射光及び参照面から反射する参照光を干渉光学系を構成するビームスプリッタ121,受光光学系170に導光して、前記眼底反射光と前記参照光とを干渉させ、該干渉光の作る干渉縞に基づき眼軸長を測定する制御回路を設けると共に、半導体レーザー111と被検眼との間にλ/2波長板128を光軸回りに回転操作可能に配置した眼軸長測定装置。
請求項（抜粋）：
光源部からの光束を直線偏光の測定光にして被検眼眼底及び基準となる参照面にそれぞれ照射すると共に、前記被検眼眼底から反射する眼底反射光及び参照面から反射する参照光を干渉光学系に導光して、前記眼底反射光と前記参照光とを干渉させ、該干渉光の作る干渉縞に基づき眼軸長を測定する測定手段を設けた眼軸長測定装置において、前記光源部と前記被検眼との間にλ/2波長板を光軸回りに回転操作可能に配置したことを特徴とする眼軸長測定装置。
引用特許：
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