特許
J-GLOBAL ID:200903024020333580

光増強方法、光増強装置、及びそれを用いた蛍光測定方法、蛍光測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長谷川 芳樹 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-056130
公開番号(公開出願番号):特開2001-242083
出願日: 2000年03月01日
公開日(公表日): 2001年09月07日
要約:
【要約】【課題】 安定的に蛍光増強効果を得ることが可能な光増強方法、光増強装置、及びそれを用いた蛍光測定方法、蛍光測定装置を提供する。【解決手段】 試料載置台1を、光入射面1a側の基板10と、試料載置面1b側の誘電体多層膜11から構成し、光入射面1aから入射された励起光を試料載置面1bで全反射させるとともに、そのエバネッセント光を試料へと供給する。そして、誘電体多層膜11を構成する低屈折率層12及び高屈折率層13の構成において、試料載置面1bの近傍で励起光の光強度が局在化されるように、各層12、13の厚さを励起光の波長に基づいて設定する。これによって、試料に供給されるエバネッセント光が増強されて、効率的な蛍光増強が実現される。
請求項(抜粋):
試料に照射される所定波長の励起光の光強度を局在化させて増強する光増強方法であって、前記励起光が透過されるとともに、一方の面が光入射面となる基板と、前記基板の他方の面上に低屈折率層及び高屈折率層を交互に積層して形成されるとともに、前記基板とは反対側の面が試料載置面となる誘電体多層膜と、を有して、前記誘電体多層膜における前記低屈折率層及び前記高屈折率層のそれぞれの厚さが、前記所定波長に基づいて、前記励起光の光強度が前記試料載置面の近傍に局在化される厚さに設定された試料載置台を用い、前記試料載置台に対して、前記光入射面から前記励起光を入射させ、前記試料載置面で全反射させて、前記試料載置面上に載置される前記試料に対して供給する増強されたエバネッセント光を生成することを特徴とする光増強方法。
IPC (2件):
G01N 21/64 ,  G02B 5/28
FI (3件):
G01N 21/64 G ,  G01N 21/64 E ,  G02B 5/28
Fターム (23件):
2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043CA05 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043EA03 ,  2G043FA02 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043JA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043LA03 ,  2G043MA01 ,  2H048GA01 ,  2H048GA07 ,  2H048GA12 ,  2H048GA34 ,  2H048GA51 ,  2H048GA61

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