特許
J-GLOBAL ID：200903024028034972
集合基板およびその各分割部分の良否判別方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松村 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-359868
公開番号（公開出願番号）：特開平11-191668
出願日： 1997年12月26日
公開日（公表日）： 1999年07月13日
要約：
【要約】【課題】集合基板の分割部分以外の領域に設けられるバッドマークによる良否の判別に代えて、より確実でしかも表面処理が不要な良否の判別が可能な集合基板を提供することを目的とする。【解決手段】集合基板20の各分割部分21の所定の位置の穴22を使用し、良品についてはこの穴22をそのままに放置するとともに、不良品については穴22をシール23によって覆うようにする。
請求項（抜粋）：
集合基板の各分割部分の所定の位置の穴をシールによって塞ぐことにより良品または不良品であることを識別するようにしたことを特徴とする集合基板。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H05K 3/00 P
, H05K 1/02 R
