特許
J-GLOBAL ID:200903024030112190
撮像装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-121950
公開番号(公開出願番号):特開平5-312955
出願日: 1992年05月14日
公開日(公表日): 1993年11月26日
要約:
【要約】【目的】 微弱光を撮像した画像中の宇宙線による疑似画像をすることができる撮像装置を提供する。【構成】 本発明に係る撮像装置は、前方から受光面に入射された光を撮像するの撮像手段(冷却CCD)と、この後方に配置されると共に、受光面と交差する軸にそれぞれ検出面が交差する複数の高エネルギー線(宇宙線)検出セルを有する高エネルギー線検出手段と、これら検出セルの検出位置にもとづいて入射された高エネルギー線の受光面における通過位置を推定するの通過位置推定手段と、撮像手段による撮像画像を通過位置推定手段の出力により処理する画像処理手段とを備える。このように、少なくとも2層にされた高エネルギー線(宇宙線)検出セルが配置されているので、撮像手段の受光面での宇宙線の通過位置を推定することができる。そして、表示装置上で撮像素子から得られた画像と宇宙線の通過位置を重ねて表示すれば、宇宙線の通過位置にある点は宇宙線によるものであると識別することができる。
請求項(抜粋):
前方から受光面に入射された光を撮像する撮像手段と、この撮像手段の後方に配置されると共に、前記受光面と交差する軸にそれぞれ検出面が交差する複数の高エネルギー線検出セルを有する高エネルギー線検出手段と、前記複数の高エネルギー線検出セルの検出位置にもとづいて入射された高エネルギー線の前記受光面における通過位置を推定する通過位置推定手段と、前記撮像手段による撮像画像を前記通過位置推定手段の出力により処理する画像処理手段とを備えることを特徴とする撮像装置。
IPC (3件):
G01T 1/16
, G01T 1/24
, G01T 1/29
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