特許
J-GLOBAL ID：200903024037533850
超音波式距離測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 勇
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-352645
公開番号（公開出願番号）：特開平6-174530
出願日： 1992年12月10日
公開日（公表日）： 1994年06月24日
要約：
【要約】【目的】 比重の重い沈殿物のレベルと比重の軽い浮遊汚泥のレベルとを同時に測定可能とする。【構成】 沈殿物及び浮遊汚泥レベル測定装置が、沈殿槽3の液中上方から下方へ向けて周波数200KHzの超音波を発射する超音波センサ4と、沈殿槽3の液中上方から下方へ向けて周波数400KHzの超音波を発射する超音波センサ5と、各超音波センサ4,5の各検出信号に基づき,沈殿物1表面及び浮遊汚泥2表面へ放射された超音波が反射して戻って来るまでの時間を計測する時間計測部17と、各計測時間に基づき沈殿物1及び浮遊汚泥2までの各距離を測定する演算部18とを備える。
請求項（抜粋）：
沈殿槽の液中底部に沈殿した沈殿物や液中に浮遊した浮遊汚泥へ超音波を発射し、前記沈殿物や前記浮遊汚泥から反射した超音波の検出に基づき、前記沈殿物や前記浮遊汚泥までの距離を測定する超音波式距離測定装置において、前記沈殿槽の液中上方から下方へ向けて比較的低い周波数の超音波を発射する第1の超音波センサと、前記沈殿槽の液中上方から下方へ向けて比較的高い周波数の超音波を発射する第2の超音波センサと、前記第1の超音波センサ及び前記第2の超音波センサの各検出信号に基づき,前記沈殿物表面及び前記浮遊汚泥表面へ放射された超音波が反射して戻って来るまでの時間を計測する時間計測手段とを備え、該時間計測手段により計測した計測時間に基づき前記沈殿物及び前記浮遊汚泥までの各距離を測定する演算手段を具備したことを特徴とする超音波式距離測定装置。
IPC (3件)：
G01F 23/28
, G01B 17/00
, G01S 15/88
