特許

J-GLOBAL ID：200903024071714090

特徴領域抽出装置、特徴領域抽出方法および特徴領域抽出プログラム

発明者： 大内 真
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (1件)： 横井 俊之
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2003015514
公開番号（公開出願番号）：WO2004-051575
出願日： 2003年12月04日
公開日（公表日）： 2004年06月17日
要約：

従来の画像検索においては検索精度が充分ではなかった。また、汎用性が高く高速に特徴的な部位を検索可能な手法が望まれていた。画像をドットマトリクス状の画素で表現した画像データを取得し、同画像データに基づいて画像のエッジ画素を検出し、同検出されたエッジ画素とその周囲の画素とで形成するパターンが所定の抽出対象に近い場合に当該エッジ画素を特徴点として抽出し、上記画像内で当該抽出した特徴点が多く分布する所定領域を特徴領域とする。

請求項（抜粋）：

画像をドットマトリクス状の画素で表現した画像データを取得する画像データ取得手段と、 同画像データに基づいて画像のエッジ画素を検出するエッジ画素検出手段と、 同検出されたエッジ画素とその周囲の画素とで形成するパターンが所定の抽出対象に近い場合に当該エッジ画素を特徴点として抽出する特徴点抽出手段と、 上記画像内で当該抽出した特徴点が多く分布する所定領域を特徴領域とする特徴領域決定手段とを具備することを特徴とする特徴領域抽出装置。

IPC (1件)：

G06T 7/60

FI (1件)：

G06T7/60 300A

Fターム (9件)：

5L096EA03 ,  5L096EA13 ,  5L096FA06 ,  5L096FA10 ,  5L096FA12 ,  5L096GA10 ,  5L096GA19 ,  5L096HA08 ,  5L096KA09