特許

J-GLOBAL ID：200903024163848955

皮膚のしわの深さの測定に用いる標準スケール、及びそれを用いた皮膚のしわの深さの測定方法

発明者： 田村 耕一郎
出願人/特許権者： 株式会社ノエビア
代理人 (1件)： 竹井 増美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-162477
公開番号（公開出願番号）：特開2000-342556
出願日： 1999年06月09日
公開日（公表日）： 2000年12月12日
要約：

【要約】【課題】 測定条件及び測定結果の処理条件にかかわらずに再現性のよい測定値を得ることができ、測定ロットの異なる結果を相互に比較することも可能な皮膚のしわの深さの測定方法を提供する。【解決手段】 0.2mm,0.4mm,0.6mm,0.8mm及び1.0mmの深さの溝を形成して成る鋳型を用いて、皮膚レプリカ材で標準スケールを作成し、この標準スケールと、測定対象である皮膚レプリカに平行光を照射して生じる陰影を画像として取り込んで二値化処理し、陰影面積及びその長さから陰影幅を算出して、標準スケールの陰影幅により検量線を作成し、次いで該検量線と皮膚レプリカについて得られた陰影幅より、皮膚のしわの深さを算出する。

請求項（抜粋）：

0.2mm,0.4mm,0.6mm,0.8mm及び1.0mmの深さの溝を形成して成る鋳型を用いて、皮膚レプリカ材で作成したことを特徴とする、皮膚のしわの深さの測定に用いる標準スケール。

IPC (4件)：

A61B 5/107 ,  A61B 5/00 ,  A61K 7/02 ,  G01B 11/00

FI (4件)：

A61B 5/10 300 Q ,  A61B 5/00 M ,  A61K 7/02 Z ,  G01B 11/00 Z

Fターム (21件)：

2F065AA22 ,  2F065AA25 ,  2F065AA58 ,  2F065BB05 ,  2F065CC16 ,  2F065FF02 ,  2F065FF42 ,  2F065FF61 ,  2F065HH03 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065NN01 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ41 ,  4C038VA04 ,  4C038VB22 ,  4C038VC01 ,  4C038VC05 ,  4C038VC20

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 皺計測システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-086535   出願人：鐘紡株式会社