特許
J-GLOBAL ID:200903024187243590
試料解析方法及び試料解析プログラム
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
平木 祐輔
, 石井 貞次
, 藤田 節
公報種別:再公表公報
出願番号(国際出願番号):JP2004004621
公開番号(公開出願番号):WO2004-090526
出願日: 2004年03月31日
公開日(公表日): 2004年10月21日
要約:
試料に含まれる成分を分析するに際して、優れた分析能を達成することができる試料解析方法及び試料解析プログラムを提供する。 本発明に係る試料解析方法は、試料の分析の結果として得られた多次元データにおける、少なくとも1次元のパラメータを補正する工程aと、上記工程aにより得られる補正後のデータを複数の試料について比較する工程bとを含む。
請求項(抜粋):
試料の分析の結果として得られた多次元データにおける、少なくとも1次元のパラメータを補正する工程aと、
上記工程aにより得られる補正後のデータを、複数の試料について比較する工程bとを含む試料解析方法。
IPC (5件):
G01N 30/86
, G01N 27/62
, G01N 30/04
, G01N 30/72
, G01N 30/88
FI (6件):
G01N30/86 G
, G01N27/62 V
, G01N27/62 X
, G01N30/04 P
, G01N30/72 C
, G01N30/88 J
Fターム (4件):
2G041CA01
, 2G041EA04
, 2G041FA12
, 2G041LA20
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