特許
J-GLOBAL ID：200903024197255449
レーザー脱離イオン化質量分析方法とそれに用いるサンプルプレート
出願人/特許権者：
株式会社島津製作所
株式会社島津製作所 について
代理人 (1件)： 野口 繁雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-326655
公開番号（公開出願番号）：特開2004-163141
出願日： 2002年11月11日
公開日（公表日）： 2004年06月10日
要約：
【課題】試料を調製する際の一連の操作における省力化を図る。【解決手段】サンプルプレート2は金属プレート44に導電性両面テープ46によりメンブレン48が固定されている。電気泳動ゲルなどの媒体に展開された試料をメンブレン48に転写する際は、通常のブロッティング操作と同様に、平板電極間にゲルなどの媒体とこのサンプルプレート2を、媒体とメンブレン48が密着するように挟み込み、両電極52,54間に電圧を印加する。これにより、ゲルなどの媒体50に展開されていた試料が電気泳動によりメンブレン48に転写される。レーザー脱離イオン化質量分析の際には、サンプルプレート2は質量分析用のプレートを兼ねる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
質量分析装置に装着されたサンプルプレート上に配置された試料にレーザー光を照射することにより試料をイオン化して分析するレーザー脱離イオン化質量分析方法において、
平板金属プレート上にあらかじめメンブレンを固着したものをサンプルプレートとして用意しておき、
前記メンブレンに試料を固相化するステップ、
メンブレンに固相化した試料に試薬を分注して固相化試料の修飾反応を行なうステップ、及び
修飾反応後のサンプルプレートを質量分析装置に装着してレーザー脱離イオン化質量分析方法により分析するステップを備えたことを特徴とするレーザー脱離イオン化質量分析方法。
IPC (4件)：
FI (7件)：
Fターム (6件)：
引用文献：
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