画像測定装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：田辺徹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-147064
公開番号（公開出願番号）：特開平10-320560
出願日： 1997年05月22日
公開日（公表日）： 1998年12月04日
要約：

【要約】【課題】相関計算法の成功率を向上させる。【解決手段】一対のステレオ画像に基準画像と捜索画像を定め、基準画像に基準データブロックを設定し、捜索画像に捜索データブロックを設けるデータ設定部と、基準データブロックと捜索データブロックとの対応関係を判別する対応判別部と、上記基準データブロックのデータの画像倍率を、捜索画像中の捜索データの画像倍率に応じて変更するデータ倍率変更部と、対応判別部の出力に応じて画像測定を行う画像測定部とからなり、上記対応判別部は、倍率変更部で倍率変更された基準データブロックと捜索データブロックとを用いて対応関係を判別するように構成したことを特徴とする画像測定装置。

請求項（抜粋）：

一対のステレオ画像に基準画像と捜索画像を定め、基準画像に基準データブロックを設定し、捜索画像に捜索データブロックを設けるデータ設定部と、基準データブロックと捜索データブロックとの対応関係を判別する対応判別部と、上記基準データブロックのデータの画像倍率を、捜索画像中の捜索データの画像倍率に応じて変更するデータ倍率変更部と、対応判別部の出力に応じて画像測定を行う画像測定部とからなり、上記対応判別部は、倍率変更部で倍率変更された基準データブロックと捜索データブロックとを用いて対応関係を判別するように構成したことを特徴とする画像測定装置。

IPC (3件)：

G06T 7/00 , G01B 11/00 , G06T 15/00

FI (4件)：

G06F 15/62 415 , G01B 11/00 H , G06F 15/62 350 V , G06F 15/70 460 A

引用特許：

審査官引用 (3件)

特開平1-191013
特開昭62-134773
対応点抽出装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-135495 出願人：キヤノン株式会社

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