特許
J-GLOBAL ID:200903024320477710

コントラスト剤取込み量を予測して断層撮影走査を実行する方法およびシステム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 生沼 徳二
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-332515
公開番号(公開出願番号):特開平10-248838
出願日: 1997年12月03日
公開日(公表日): 1998年09月22日
要約:
【要約】【課題】 関心のある器官内のコントラスト剤取込み量を予測してコンピュータ断層撮影走査を最適にする。【解決手段】 予備走査を実行して(72)少なくとも1つの基準コントラスト剤取込み量測定値を決定し(74)、この基準測定値に予測アルゴリズムを適用して(78)少なくとも1つのその後のコントラスト剤取込み量測定値を予測する(76)。予測値が走査パラメータを満足している場合(80)、コントラスト剤取込み量が最大である間に画像走査が実行される(86)ように、画像走査が開始される(82)。予測値が走査パラメータを満足しない場合は、付加的な予備走査(72)を実行して、新しい基準コントラスト剤取込み量測定値を決定し、前と同様な処理を繰り返す。予測アルゴリズムは、前のコントラスト剤取込み量測定値を使用して、予測精度を改善するために動的に調節し得る。予備走査および予測処理は、予測値が走査パラメータを満足するまで繰り返される。
請求項(抜粋):
コントラスト剤を注入した関心のある対象物の断層撮影走査を実行する方法において、(a)対象物について予備走査を実行して、少なくとも1つの基準コントラスト剤取込み量測定値を決定するステップ、および(b)予測アルゴリズムおよび前記決定された基準コントラスト剤取込み量測定値を使用して、少なくとも1つのその後のコントラスト剤取込み量測定値を予測するステップを有することを特徴とする断層撮影走査の実行方法。
IPC (2件):
A61B 6/03 375 ,  G06T 1/00
FI (2件):
A61B 6/03 375 ,  G06F 15/62 390 A
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • X線CT装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-267628   出願人:株式会社東芝
  • 特開平1-207038
  • 特開平1-311596

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