特許

J-GLOBAL ID：200903024326398030

電子装置

発明者： 田中 哲也 ,  畑田 敏夫 ,  新 隆之 ,  小林 淳一 ,  高梨 明紘 ,  大黒 崇弘 ,  渡辺 裕 ,  頭士 鎮夫
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-224760
公開番号（公開出願番号）：特開平8-088493
出願日： 1994年09月20日
公開日（公表日）： 1996年04月02日
要約：

【要約】【目的】電子装置筐体内の結露を防止して、信頼性の高い電子装置システムを提供する。【構成】発熱半導体部品1を搭載する基板2、送風機3などを収納した電子装置10に、開口部14を通って電子装置10の筐体内に流入する冷却空気の相対湿度および露点温度を検出する湿度検出部11と、半導体部品の表面及び内部の温度を検出する表面温度検出部12、内部温度検出部13と、ヒートポンプ15と室外機16により構成される除湿及び加熱手段と、該相対湿度を100%未満に、該露点温度を該表面温度以上になるよう除湿及び加熱手段を制御する制御部14を備える。

請求項（抜粋）：

半導体部品等の発熱体と該発熱体を冷却するための冷却装置を備えた電子装置において、前記冷却装置が、冷却空気を電子装置内に供給する冷却空気供給手段と、該冷却空気供給手段により前記電子装置内に供給された後の空気の相対湿度または飽和度を検出する検出手段と、前記電子部品の内部温度を検出するあるいは推定する計測手段と、前記前記電子装置内に供給された後の空気を除湿する除湿手段とを備え、前記検出手段により検出された空気の相対湿度または飽和度が設定された規定値未満に維持されるように、かつ前記計測手段により計測された電子部品の内部温度が設定値を超えないように前記除湿手段を制御することを特徴とする電子装置。

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭60-256731
  
• 特開昭52-113546
  
• 特開昭59-079599
  
• 特開昭63-211799