特許
J-GLOBAL ID：200903024363061453
撮像装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-374578
公開番号（公開出願番号）：特開2002-185857
出願日： 2000年12月08日
公開日（公表日）： 2002年06月28日
要約：
【要約】【課題】画素欠陥補償における欠陥画素の大量発生に伴う問題点を解決し、画質劣化の程度を最低限に抑えつつ長時間撮影などの撮影条件の限界を延ばす。【解決手段】画素欠陥の検出時には、システムコントローラ112に設けられた画素欠陥情報取得部112aが露出制御機構103およびCCDドライバ106を用いてCCD撮像素子105の露光および電荷蓄積時間を制御することにより、CCD撮像素子105の所定の動作状況における画素欠陥に関する情報が取得される。そして、その取得された画素欠陥情報、さらにはEEPROM118に予め格納されている常欠陥に関する情報とを用いることにより、最終的に欠陥画素とすべき画素が欠陥画素検出部112bにて判定される。欠陥画素検出部112bでは、複数の欠陥画素候補が隣接した場合には優先順位の低いものは欠陥と判定しないという、優先度に基づく欠陥画素判定が行われる。
請求項（抜粋）：
撮像素子と、前記撮像素子に対する露光を制御可能な露出制御手段と、前記撮像素子における電荷蓄積時間を制御可能な蓄積時間制御手段と、前記露出制御手段および前記蓄積時間制御手段とを制御して前記撮像素子の所定の動作状況における画素欠陥に関する情報を取得する画素欠陥情報取得手段と、前記画素欠陥情報取得手段が取得した画素欠陥情報に基づいて欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段とを具備し、前記欠陥画素検出手段は、前記欠陥画素の検出に際して欠陥画素の候補間にその欠陥の種類および/または程度に応じて規定された優先度の判定を行い、その優先度判定の結果に基づいて欠陥画素とすべき欠陥画素候補を検出することを特徴とする撮像装置。
IPC (3件)：
H04N 5/335
, G06T 1/00 430
, H04N 1/19
H04N 5/335 P
, G06T 1/00 430 J
, H04N 1/04 102
5B047BB04
, 5B047BC14
, 5B047CB13
, 5B047CB23
, 5B047DC09
, 5C024BX01
, 5C024CX21
, 5C024CX22
, 5C024CX23
, 5C024CX24
, 5C024CX25
, 5C024CX51
, 5C024GY01
, 5C024HX14
, 5C024HX29
, 5C024HX50
, 5C024HX58
, 5C024HX59
, 5C072EA05
, 5C072EA08
, 5C072FB15
, 5C072FB16
, 5C072XA10
