特許

J-GLOBAL ID：200903024377479213

表示パネルの欠陥画素のアドレス特定方法、自動画質検査方法およびその装置

発明者： 池田 真人
出願人/特許権者： 株式会社日本マイクロニクス
代理人 (2件)： 松永 宣行 ,  小合 宗一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-009730
公開番号（公開出願番号）：特開2007-192983
出願日： 2006年01月18日
公開日（公表日）： 2007年08月02日
要約：

【課題】 検査を受ける表示パネルと該表示パネルの画面を撮影する撮像機器との相対位置のずれの有無に拘わらず、正確かつ容易に欠陥画素のアドレスを特定する方法を提供する。【解決手段】 欠陥が存在する表示パネルの画面上に、前記欠陥を表示させかつアドレスが既知の複数の画素を選択的に表示させた状態で、前記表示パネルの表示画面を撮影する。撮影によって得られた撮影画像上の選択表示された前記画素の画像およびそのアドレスから、前記撮影画像上の欠陥画素に対応する欠陥画像のアドレスを算出する。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

検査を受ける表示パネルの多数の画素からなる画面上に欠陥が存在するとき、該欠陥を表示させかつ画面上のそれぞれのアドレスが既知の複数の画素を選択的に表示させた状態で前記表示パネルの表示画面を撮影すること、撮影により得られた撮影画像上の選択的に表示された前記各画素の点画像およびそのアドレスから、該撮影画像上の欠陥画像に対応する前記欠陥画素のアドレスを算出することを特徴とする表示パネルの欠陥画素のアドレス特定方法。

IPC (6件)：

G09G 3/20 ,  G06T 1/00 ,  G09G 3/36 ,  G02F 1/13 ,  G01N 21/88 ,  G01R 31/00

FI (7件)：

G09G3/20 670A ,  G06T1/00 300 ,  G09G3/36 ,  G09G3/20 670Q ,  G02F1/13 101 ,  G01N21/88 Z ,  G01R31/00

Fターム (52件)：

2G036AA25 ,  2G036BA33 ,  2G036CA12 ,  2G051AA73 ,  2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051BB01 ,  2G051CA04 ,  2G051CB02 ,  2G051EA16 ,  2G051EA23 ,  2G051ED23 ,  2G086EE10 ,  2H088FA13 ,  2H088FA16 ,  2H088FA17 ,  2H088FA18 ,  2H088FA30 ,  2H088HA10 ,  2H088MA20 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057BA19 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB18 ,  5B057CC03 ,  5B057CD06 ,  5B057DA03 ,  5B057DA16 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC05 ,  5B057DC22 ,  5B057DC33 ,  5B057DC36 ,  5C006AF51 ,  5C006AF53 ,  5C006AF65 ,  5C006BF14 ,  5C006BF24 ,  5C006BF39 ,  5C006EB01 ,  5C006EB04 ,  5C080AA10 ,  5C080BB05 ,  5C080DD15 ,  5C080DD27 ,  5C080DD28 ,  5C080JJ01 ,  5C080JJ02

引用特許：

出願人引用 (1件)

• パネル画質検査装置及びその画質補正方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-237794   出願人：株式会社アドバンテスト