特許
J-GLOBAL ID：200903024469272097
質量分析計
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
縣 浩介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-018906
公開番号（公開出願番号）：特開平7-211282
出願日： 1994年01月19日
公開日（公表日）： 1995年08月11日
要約：
【要約】主として分子イオンが生成され、フラグメントイオンが生成され難い試料イオン化法を用いる場合に、フラグメントイオンを生成させて、試料の分析情報を豊富にする。【構成】 試料イオン化部と質量分析部との間に四重極電極を配置して高周波電圧を印加し、その高周波四重極電場内に衝突ガスを導入するようにした。【作用 効果】 四重極電場はイオンの発散を抑えて効率良く質量分析部へイオンを導入する機能を果す。この四重極電場で試料イオンは衝突ガス分子と衝突して開裂反応を起し、多種のフラグメントイオンが生成される。
請求項（抜粋）：
イオン源と質量分析部との間に衝突ガスが供給される衝突室を配置し、衝突室内に四重極電極を配置して高周波電圧を印加するようにしたことを特徴とする質量分析計。
IPC (3件)：
H01J 49/06
, G01N 27/62
, H01J 49/42
