特許

J-GLOBAL ID：200903024503175217

テストパターンの品質評価方法

発明者： 上戸鎖 裕 史
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 佐藤 一雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-255791
公開番号（公開出願番号）：特開2000-090136
出願日： 1998年09月09日
公開日（公表日）： 2000年03月31日
要約：

【要約】【課題】 品質評価に要する時間を可及的に短くする。【解決手段】 論理機能ブロックを有する、テストすべき集積回路と同一構成の、コンピュータ上で構築されたモデル回路に各テストパターンを入力して活性化チェックを実行するステップと、活性化チェック結果に基づいて活性化ノード情報のマトリクスを作成するステップと、前記マトリクスに基づいて不要テストパターンを除去するステップと、論理機能ブロックを単位として残りのテストパターンをグループ化するステップと、グループ化されたテストパターンを用いて前記モデル回路の故障シミュレーションを実行するステップとを備えたことを特徴とする。

請求項（抜粋）：

論理機能ブロックを有する、テストすべき集積回路と同一構成の、コンピュータ上で構築されたモデル回路に各テストパターンを入力して活性化チェックを実行するステップと、活性化チェック結果に基づいて活性化ノード情報のマトリクスを作成するステップと、前記マトリクスに基づいて不要テストパターンを除去するステップと、論理機能ブロックを単位として残りのテストパターンをグループ化するステップと、グループ化されたテストパターンを用いて前記モデル回路の故障シミュレーションを実行するステップと、を備えたことを特徴とするテストパターンの品質評価方法。

IPC (3件)：

G06F 17/50 ,  G01R 31/28 ,  G01R 31/3183

FI (4件)：

G06F 15/60 670 G ,  G01R 31/28 F ,  G01R 31/28 Q ,  G06F 15/60 670 D

Fターム (9件)：

2G032AA01 ,  2G032AC08 ,  2G032AE12 ,  2G032AG02 ,  2G032AG10 ,  2G032AL00 ,  5B046AA08 ,  5B046BA09 ,  5B046JA04