特許

J-GLOBAL ID：200903024536083733

物体の3次元形状測定方法及び装置

発明者： アルミン マイトホーフ ,  ペーター アンドレ ,  マンフレート アドルハルト ,  ミハエル カウス ,  マルクス バーゼル ,  フランク トス ,  マルクス ラツァー ,  トーマス ナスヴェッター ,  ハンス シュタインビフラー
出願人/特許権者： シュタインビフラー オプトテヒニク ゲーエムベーハー
代理人 (1件)： 前田 弘 (外7名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-584823
公開番号（公開出願番号）：特表2003-533685
出願日： 2001年05月16日
公開日（公表日）： 2003年11月11日
要約：

【要約】 本発明は、物体の3次元輪郭を測定する方法に関する。この種の方法を改良するために、物体(5)の複数の領域が計測される。少なくとも1回の計測作業の間に、少なくとも1つの基準対象(4)が計測される。物体(5)の計測された領域が結合される(1)。

請求項（抜粋）：

物体の3次元形状を測定する方法であって、 物体(5)の複数の領域を計測し、 少なくとも1回の計測の間に少なくとも1つの基準対象(4)を計測し、 上記物体(5)の計測された領域を互いに連結する物体の3次元形状測定方法。

IPC (2件)：

G01B 21/20 101 ,  G01B 11/25

FI (2件)：

G01B 21/20 101 ,  G01B 11/24 E

Fターム (20件)：

2F065AA04 ,  2F065AA14 ,  2F065AA20 ,  2F065AA51 ,  2F065BB05 ,  2F065BB27 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065FF61 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F069AA04 ,  2F069AA06 ,  2F069FF07 ,  2F069GG01 ,  2F069GG04 ,  2F069GG07

引用特許：

審査官引用 (9件)

• 3次元モデリング装置、3次元モデリング方法および3次元モデリングプログラムを記録した媒体
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-191868   出願人：三洋電機株式会社
• 形状測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-173275   出願人：松尾橋梁株式会社, 株式会社アイティーティー
• 画像計測方法及び画像計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-330505   出願人：キヤノン株式会社
• 測定範囲に制限のない3次元測定器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-033892   出願人：宗平聖士郎
• 特開平1-119708
  
• 特開平1-119708
  
• 特開平1-119708
  
• 三次元形状抽出方法及び装置並びに記憶媒体
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-263769   出願人：キヤノン株式会社
• 特表平5-501006