特許

J-GLOBAL ID：200903024536629957

液晶表示素子の検査装置

発明者： 小林 昌則
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 中村 純之助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-099437
公開番号（公開出願番号）：特開平6-308182
出願日： 1993年04月26日
公開日（公表日）： 1994年11月04日
要約：

【要約】【構成】液晶表示素子(62)を構成する基板(11、12)が挟持可能なクリップ(1)の片側の押さえ部(66)の内面に導電ゴム(2)が一体化され、かつ、クリップ(1)により挟持された液晶表示素子(62)の端子部と検査用電気回路(68)とが導電ゴム(2)を介して電気的に接続される構成。【効果】液晶表示素子の端子部と検査用電気回路との電気的接続を容易に行うことができ、検査の作業性を向上させ、作業時間を短縮することができる。その結果、液晶表示装置の製造時間を短縮することができる。

請求項（抜粋）：

液晶表示素子を構成する基板が挟持可能なクリップの少なくとも一方の押さえ部の内面に可撓性導電膜が一体化され、かつ、前記クリップにより挟持された前記液晶表示素子の端子部と検査用電気回路とが前記可撓性導電膜を介して電気的に接続されるようになっていることを特徴とする液晶表示素子の検査装置。

IPC (4件)：

G01R 31/00 ,  G01R 31/02 ,  G02F 1/133 505 ,  G02F 1/1345