特許

J-GLOBAL ID：200903024556171841

MRI装置

発明者： クリス ミズモト
出願人/特許権者： 横河メディカルシステム株式会社
代理人 (1件)： 有近 紳志郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-275779
公開番号（公開出願番号）：特開平6-121777
出願日： 1992年10月14日
公開日（公表日）： 1994年05月06日
要約：

【要約】【目的】 RARE法によるオフセンタスライス選択励起時の位相ズレを補正する。【構成】 RARE法により静磁場中心からの距離がLのオフセンタスライスのイメージを得るMRI装置1であって、距離Lに基づき各スピンエコー信号でのオフレゾナンス位相シフトφを算出する位相ズレ算出部2と、そのオフレゾナンス位相シフトφが補償されるように各RFパルスのパルス回転角βを設定し直すパルス回転角再設定部3とを備える。【効果】 RARE法での主要な位相ズレであるオフレゾナンス位相シフトを理論的に補正でき、良好なイメージが得られる。また、位相ズレ計測用シーケンスが不要となるため、スループットを向上できる。

請求項（抜粋）：

静磁場中心から所定距離を有するオフセンタスライスについて、RARE法による所定フリップ角,所定パルス回転角のRFパルスを印加し、収集したスピンエコー信号に基づいて前記オフセンタスライスについてのイメージを得るMRI装置において、指定されたオフセンタスライスの静磁場中心からの距離に応じて各スピンエコー信号でのオフレゾナンス位相シフトによる位相ズレを算出する位相ズレ算出手段と、算出した各スピンエコー信号での位相ズレが補償されるように各RFパルスのパルス回転角を設定し直すパルス回転角再設定手段とを具備したことを特徴とするMRI装置。

IPC (3件)：

A61B 5/055 ,  G01R 33/28 ,  G01R 33/46

FI (4件)：

A61B 5/05 312 ,  A61B 5/05 374 ,  G01N 24/02 K ,  G01N 24/08 B