特許
J-GLOBAL ID：200903024680404080
X線異物検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
野口 繁雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-112533
公開番号（公開出願番号）：特開2004-317334
出願日： 2003年04月17日
公開日（公表日）： 2004年11月11日
要約：
【課題】被検査物を配管によって移送する場合にX線照射位置で被検査物が停留しないようにする。【解決手段】被検査物12の移送手段は、断面が円形の管内に被検査物12を流体として流すために組まれた配管14であるが、配管14はX線照射位置の手前でいったん途切れていて、上流側開放口16から出た被検査物12がX線照射位置を上方から下方へ下向きに自然落下するように、上流側開放口16部分は垂直方向に配置され、上流側開放口16は下向きに開口している。被検査物12は上流側開放口16から落下し、X線照射された後、再び配管の下流側開放口18に流入する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
X線を照射するX線発生器と、前記X線発生器から照射されたX線を検出するように前記X線発生器に対向して配置されたX線検出器とを備え、配管を配しその管内に被検査物を流す方法で被検査物が前記X線発生器からのX線を横切るように移送し、前記X線発生器からのX線が被検査物を透過した後の前記X線検出器によるX線検出強度に基づいて被検査物内の異物の有無を検知するX線異物検査装置において、
前記X線発生器とX線検出器はX線を水平方向に照射する方向に配置され、前記配管は被検査物がX線を横切る位置では管壁をもたず、被検査物が自然落下しながらX線照射位置を通過する構造となっていることを特徴とするX線異物検出装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (13件)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA02
, 2G001JA04
, 2G001KA05
, 2G001KA20
, 2G001LA01
, 2G001PA03
, 2G001PA07
, 2G001PA18
, 2G001SA01
, 2G001SA13
