特許
J-GLOBAL ID:200903024717825839

X線分析用試料ホルダ装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 杉本 修司 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-036060
公開番号(公開出願番号):特開平10-232208
出願日: 1997年02月20日
公開日(公表日): 1998年09月02日
要約:
【要約】【課題】 粉末試料を加圧成形することなく上面照射型蛍光X線分析装置により正確にX線分析できるX線分析用試料ホルダ装置を提供する。【解決手段】 X線分析用試料ホルダ装置1の筒形の試料カップ3の一端開口部10を樹脂製のカバーシート12で閉塞する。この試料カップ3を試料ホルダ2内に挿入する。試料カップ3内に多孔質材14を入れて、樹脂製カバーシート12と多孔質材14との間に粉末試料13を挟む。この多孔質材14を弾性保持具4の弾性力で試料13に押し付けることにより、試料13をカバーシート12に押し当てると共に、このカバーシート12が装着された試料カップ3の一端部を試料ホルダ2の係止部8aに押し付ける。
請求項(抜粋):
一端開口部が樹脂製のカバーシートで閉塞されて試料ホルダ内に挿入される筒形の試料カップと、前記試料カップ内で前記樹脂シートとの間で粉末試料を挟む多孔質材と、前記多孔質材を試料に弾性力で押し付けることにより、試料を前記カバーシートに押し当てることで、このカバーシートが装着された前記試料カップの一端部を試料ホルダの係止部に押し付ける弾性保持具とを備えたX線分析用試料ホルダ装置。
IPC (3件):
G01N 23/223 ,  G01N 1/04 ,  G01N 1/28
FI (3件):
G01N 23/223 ,  G01N 1/04 J ,  G01N 1/28 W

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