特許

J-GLOBAL ID：200903024725944960

軸受の表面性状検査方法及び装置

発明者： 桃野 達信 ,  高橋 英一
出願人/特許権者： 日本精工株式会社
代理人 (1件)： 渡部 敏彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-177168
公開番号（公開出願番号）：特開2004-020429
出願日： 2002年06月18日
公開日（公表日）： 2004年01月22日
要約：

【課題】軸受を構成する転走体の表面性状を精度良く検査することができる表面性状検査方法及び装置を提供する。【解決手段】表面性状検査装置1は、転がり軸受等の転走体2を回転させる駆動部3と、回転される転走体2の転走面の形状を局所的に検出する接触式センサ4と、接触式センサ4で検出された転走面の形状に関する振幅データ信号を増幅させた後、ディジタルの振幅データ信号に変換するA/D変換器6と、A/D変換器6から入力されたディジタルの振幅データ信号を、短時間フーリエ変換法、ウィグナ分布解析法、ウェーブレット変換法等を用いて位置-振動振幅データを解析するスペクトル解析部7とを備え、転走体2の表面性状の測定を実行し、解析後の円周上の位置-山数スペクトルを表示する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

軸受を構成する転走体を所定の回転速度で回転させる回転ステップと、前記回転する転走体の表面性状を検出する検出ステップと、前記所定の回転速度に基づいて前記転走体の位置に関するデータを取得する取得ステップと、前記検出された表面性状に関するデータをディジタル信号に変換するディジタル変換ステップとを有する軸受の表面性状検査方法において、前記ディジタル信号と前記転走体の回転時の位置に関するデータとを関連づけて所定単位の回転分のデータを作成するデータ作成ステップと、前記作成されたデータを所定の方法により解析するスペクトル解析ステップとを有することを特徴とする軸受の表面性状検査方法。

IPC (3件)：

G01M13/04 ,  G01B21/30 ,  G01H17/00

FI (3件)：

G01M13/04 ,  G01B21/30 ,  G01H17/00 A

Fターム (29件)：

2F069AA60 ,  2F069BB09 ,  2F069DD30 ,  2F069GG01 ,  2F069GG19 ,  2F069GG62 ,  2F069JJ17 ,  2F069MM23 ,  2F069MM34 ,  2F069NN00 ,  2F069NN06 ,  2F069NN07 ,  2F069NN08 ,  2F069NN16 ,  2F069NN26 ,  2G024AC01 ,  2G024BA06 ,  2G024CA01 ,  2G024CA05 ,  2G024DA09 ,  2G024EA01 ,  2G024FA04 ,  2G024FA11 ,  2G064AA17 ,  2G064AB23 ,  2G064BC32 ,  2G064CC35 ,  2G064CC42 ,  2G064CC43