特許

J-GLOBAL ID：200903024727845617

論理検証装置

発明者： 清水 利彦 ,  阿部 薫 ,  中野 伸一
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 宮園 純一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-089665
公開番号（公開出願番号）：特開平10-283388
出願日： 1997年04月08日
公開日（公表日）： 1998年10月23日
要約：

【要約】【課題】 膨大なシミュレーションパターンを保持しておく必要がなく、テストパターンの作成時間を大幅に削減可能にし、また、シミュレーションの効率の向上を図れる論理検証装置を得る。【解決手段】 パターン自動発生器2は、動作パラメータ3からアドレス,データ,制御信号等のシミュレーションパターンを自動生成し論理検証対象LSI1に出力する。自動判定装置4,14は、論理検証対象LSI1の動作の正当性をシミュレーション実行中に自動判定する。内部状態報告装置10は論理検証対象LSI1の内部状態を報告する。

請求項（抜粋）：

論理シミュレーションにより被試験論理回路の論理検証を行う論理検証装置において、アドレス,データ,書き込み/読み出し,データ転送数,データ転送間隔等から成る動作パラメータと、この動作パラメータに基づいてアドレス,データ,制御信号等のシミュレーションパターンを生成し、被試験論理回路に出力するシミュレーションパターン生成手段と、上記被試験論理回路の動作の正当性を上記シミュレーションパターンによるシミュレーション実行中に判定する正当性判定手段と、上記被試験論理回路の内部状態を報告する内部状態報告手段とを備えたことを特徴とする論理検証装置。

IPC (3件)：

G06F 17/50 ,  G01R 31/28 ,  G06F 11/22 310

FI (5件)：

G06F 15/60 664 J ,  G06F 11/22 310 B ,  G01R 31/28 F ,  G06F 15/60 664 K ,  G06F 15/60 670