ICモジュール測定装置とその測定方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：大胡典夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-054942
公開番号（公開出願番号）：特開2000-249741
出願日： 1999年03月03日
公開日（公表日）： 2000年09月14日
要約：

【要約】【課題】 ICモジュール等のテストハンドラ装置での測定で、稼働率を向上させた測定装置と測定方法。【解決手段】 ICモジュール1a〜gが搬送される搬送路に沿って複数の測定部3a〜cが設けられたICモジュール測定装置で、複数の測定部3a〜cの間にアイドルポジション4を設け、このアイドルポジション4へ2つの搬送手段10、11をそれぞれ移動可能にする。

請求項（抜粋）：

ICモジュールが搬送される搬送路に沿って複数の測定部が設けられたICモジュール測定装置において、前記複数の測定部の間にアイドルポジションが設けら、このアイドルポジションへは前記ICモジュールを搬送するために前記搬送路に沿って設けられた隣接する2つの搬送手段がそれぞれ移動可能であることを特徴とするICモジュール測定装置。

FI (2件)：

G01R 31/26 Z , G01R 31/26 F

Fターム (5件)：

2G003AA07 , 2G003AB01 , 2G003AG01 , 2G003AG11 , 2G003AH04

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