特許
J-GLOBAL ID：200903024880668422

粒子検出装置

発明者：
松田 朋信

松田 朋信 について


出願人/特許権者：
リオン株式会社

リオン株式会社 について


代理人 (2件)： 小山 有 ,  稲元 富保
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-352133
公開番号（公開出願番号）：特開2005-114664
出願日： 2003年10月10日
公開日（公表日）： 2005年04月28日
要約：
【課題】 高濃度の微粒子濃度を短時間で簡便に測定することができる粒子検出装置を提供する。【解決手段】 浮遊粒子の粒子濃度を測定する粒子検出装置であって、粒子を浮遊させた状態で、ある大きさの範囲の粒子を取り出す分級器1と、この分級器1により取り出され、粒子検出領域に導かれた複数の粒子に同時に光を照射してそれらの粒子が発する散乱光を検出する粒子検出部2と、この粒子検出部2の出力信号から粒子濃度を求める演算処理部3からなる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
浮遊粒子の粒子濃度を測定する粒子検出装置であって、粒子を浮遊させた状態で、ある大きさの範囲の粒子を取り出す分級器と、この分級器により取り出され、粒子検出領域に導かれた複数の粒子に同時に光を照射してそれらの粒子が発する散乱光を検出する粒子検出部と、この粒子検出部の出力信号から粒子濃度を求める演算処理部からなることを特徴とする粒子検出装置。
IPC (2件)：
G01N15/02 ,  G01N15/06
FI (3件)：
G01N15/02 F ,  G01N15/02 A ,  G01N15/06 D
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (7件)
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