特許
J-GLOBAL ID:200903024886650592

構成要素の非破壊試験装置及び方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 杉村 興作 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-332015
公開番号(公開出願番号):特開2001-194346
出願日: 2000年10月31日
公開日(公表日): 2001年07月19日
要約:
【要約】【課題】 試験すべき構成要素の簡単且つ高信頼評価を提供する装置及び方法を提供することにある。【解決手段】 本発明は受動構成要素(1)の非破壊試験方法に関する。本発明の方法では、受動構成要素(1)の品質を試験するために電気試験信号を受動構成要素に供給し、アコースティックエミッションをマイクロフォン(4)により測定し得るように、測定された信号を評価ユニット(5)に供給する。
請求項(抜粋):
電気試験信号を受けた構成要素によるアコースティックエミッションを測定し得ることを特徴とする構成要素の非破壊試験装置。
IPC (4件):
G01N 27/92 ,  G01N 29/14 ,  G01R 31/00 ,  H01G 13/00 361
FI (4件):
G01N 27/92 E ,  G01N 29/14 ,  G01R 31/00 ,  H01G 13/00 361 C

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