特許

J-GLOBAL ID：200903024894141630

挙動解析装置、挙動解析方法、及びプログラム

発明者： 永井 新吾
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 渡部 敏彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-365480
公開番号（公開出願番号）：特開2004-199271
出願日： 2002年12月17日
公開日（公表日）： 2004年07月15日
要約：

【課題】弾性構造物と粒子の挙動を簡単かつ精度よく解析することを可能にする。【解決手段】粒子に働く力を基に該粒子の変位を時間系列に沿って計算する(118)。またバネ-質点モデルに基づいて弾性構造物の弾性力を計算する(115)とともに、弾性構造物と粒子との間に働く作用力を計算する(116)。これらの算出された弾性力および作用力に基づき、弾性構造物を表す質点の変位を時間系列に沿って計算する(119)。前記算出された粒子の変位と前記算出された質点の変位とを基に、粒子と弾性構造物の挙動を表示する(120)。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

容器に内包された弾性構造物と粒子の挙動を解析する挙動解析装置において、 前記粒子に働く力を基に該粒子の変位を時間系列に沿って計算する粒子変位計算手段と、 バネ-質点モデルに基づいて前記弾性構造物の弾性力を計算する弾性力計算手段と、 前記弾性構造物と前記粒子との間に働く作用力を計算する作用力計算手段と、 前記弾性力計算手段によって算出された弾性力および前記作用力計算手段によって算出された作用力に基づき、前記弾性構造物を表す質点の変位を時間系列に沿って計算する質点変位計算手段と、 前記粒子変位計算手段によって算出された粒子の変位と前記質点変位計算手段によって算出された質点の変位とを基に、前記粒子と前記弾性構造物の挙動を表示する表示手段と を有することを特徴とする挙動解析装置。

IPC (2件)：

G06F17/13 ,  G03G15/08

FI (2件)：

G06F17/13 ,  G03G15/08 110

Fターム (5件)：

2H077AB00 ,  2H077GA01 ,  5B056BB03 ,  5B056BB22 ,  5B056HH07