特許
J-GLOBAL ID：200903024954264191
ファイバ検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
渡辺 正康 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-294171
公開番号（公開出願番号）：特開平8-152376
出願日： 1994年11月29日
公開日（公表日）： 1996年06月11日
要約：
【要約】【目的】ビート信号のスペクトルの変化を測定し測定対象の反射点までの距離を求めるようにし、レーザ光源のスペクトル線幅により測定可能距離が制限されない方式のファイバ検査装置を実現する。【構成】レーザ光源からの出力光を分割し、分割した前記出力光を測定対象および参照ミラーに入射し、前記測定対象および前記参照ミラーからの反射光を合波させることにより得られるビート信号を測定し、前記測定対象の反射点の位置または反射率を得るようにしたファイバ検査装置において、前記レーザ光源の発振周波数を周波数fMOD で変調すると共にその変調周波数fMOD を時間的に変化させ、前記変調周波数fMOD に対する前記ビート信号の変化から前記測定対象の反射点の位置または反射率を得るように構成する。
請求項（抜粋）：
レーザ光源からの出力光を分割し、分割した前記出力光を測定対象および参照ミラーに入射し、前記測定対象および前記参照ミラーからの反射光を合波させることにより得られるビート信号を測定し、前記測定対象の反射点の位置または反射率を得るようにしたファイバ検査装置であって、前記レーザ光源の発振周波数を周波数fMOD で変調すると共にその変調周波数fMOD を時間的に変化させ、前記変調周波数fMOD に対する前記ビート信号の変化から前記測定対象の反射点の位置または反射率を得るように構成したことを特徴とするファイバ検査装置。
IPC (2件)：
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