特許
J-GLOBAL ID：200903024958838249
光ディスク装置用半導体レーザの光強度制御回路
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
綿貫 隆夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-345817
公開番号（公開出願番号）：特開2000-173088
出願日： 1998年12月04日
公開日（公表日）： 2000年06月23日
要約：
【要約】【課題】 ライト動作を高速化させてもリードビームの光強度を安定させることができるようにする。【解決手段】 光強度モニタ部14はライトビームとリードビームとを光ディスクへ照射する半導体レーザ12のビームの光強度を検出し、モニタ信号aを出力する。サンプルパルス(SP)発生部16はリードビームの照射期間内にリード出力サンプルパルス(RSパルス)bを出力する。パルス処理部32はRSパルスbを所定時間だけ遅延した遅延サンプルパルスを発生すると共に、RSパルスbと遅延サンプルパルスとをAND処理してリード出力S/H部18に対する新たなRSパルスbnew として出力する。リード出力S/H部18はRSパルスbnew に応答してモニタ信号aをサンプルホールドする。リードビーム制御部22はサンプルホールドされたモニタ信号aに基づき、リードビームの光強度を予め決められた基準強度gになるように制御する。
請求項（抜粋）：
光強度が異なるライトビームとリードビームとを光ディスクへ照射する半導体レーザと、該半導体レーザが照射する前記ビームの光強度を検出し、該光強度に応じて変化するモニタ信号を出力する光強度モニタ部と、前記リードビームの照射期間に対応したリード出力サンプルパルスを出力するサンプルパルス発生部と、前記リード出力サンプルパルスに応答して前記モニタ信号をサンプルホールドするリード出力サンプルホールド部と、該リード出力サンプルホールド部によりサンプルホールドされた前記モニタ信号に基づき、前記半導体レーザから出力される前記リードビームの光強度を予め決められた基準強度になるように制御するリードビーム制御部とを具備する光ディスク装置用半導体レーザの光強度制御回路において、前記サンプルパルス発生部と前記リード出力サンプルホールド部との間に配置され、該サンプルパルス発生部から入力された前記リード出力サンプルパルスを所定時間だけ遅延した遅延サンプルパルスを発生すると共に、サンプルパルス発生部から入力されたリード出力サンプルパルスと該遅延サンプルパルスとをAND処理して前記リード出力サンプルホールド部に対する新たなリード出力サンプルパルスとして出力するパルス処理部を具備することを特徴とする光ディスク装置用半導体レーザの光強度制御回路。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G11B 7/125 C
, H01S 3/18 631
5D119AA09
, 5D119AA24
, 5D119BA01
, 5D119DA01
, 5D119HA04
, 5D119HA12
, 5D119HA44
, 5F073BA06
, 5F073EA13
, 5F073EA14
, 5F073GA04
, 5F073GA12
, 5F073GA24
