特許
J-GLOBAL ID:200903025046458328
欠陥検出回路及び欠陥検出方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
服部 毅巖
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-028987
公開番号(公開出願番号):特開2004-241600
出願日: 2003年02月06日
公開日(公表日): 2004年08月26日
要約:
【課題】欠陥画素に隣接する画素の欠陥による影響を考慮して、欠陥幅を決定する。【解決手段】固体撮像素子20からのデジタルの映像信号を入力すると、映像情報を映像情報格納部11で一時的に保存し、出力レベルを比較部13において閾値設定部12によって与えられた閾値と比較し、出力レベルが閾値を上回った場合は、計数部14で、その映像信号に対応する画素を欠陥画素としてカウントし、さらに欠陥画素の出力レベルに応じて欠陥幅を拡大し、記録部15によって、映像情報格納部11に保持された欠陥画素の映像情報と欠陥幅を、記録媒体30に欠陥情報として書き込む。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
固体撮像素子上に発生する欠陥画素を検出する欠陥画素検出回路において、
前記固体撮像素子から出力されデジタル化された映像信号のうち、少なくとも前記映像信号の出力レベル及び位置情報を含む映像情報を一時格納する映像情報格納部と、
欠陥判定に用いる閾値を設定する閾値設定部と、
前記出力レベルと前記閾値とを比較する比較部と、
前記比較部での比較の結果、前記閾値を超えた前記出力レベルの前記映像信号に対応する画素を前記欠陥画素として計数し、さらに前記出力レベルに応じて欠陥幅を拡大して計数可能な計数部と、
記録媒体に前記欠陥画素の前記映像情報と、前記欠陥幅とを欠陥情報として記録する記録部と、
を有することを特徴とする欠陥画素検出回路。
IPC (2件):
FI (2件):
H01L27/14 Z
, H04N5/335 Z
Fターム (12件):
4M118AA09
, 4M118AB01
, 4M118BA10
, 4M118BA14
, 4M118DD10
, 4M118DD12
, 4M118GC08
, 4M118GD03
, 4M118GD13
, 5C024CX22
, 5C024CX23
, 5C024CY01
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